，首要用于评价绝缘资料、电子元件、半导体器材等的高阻特性。其丈量成果直接影响绝缘资料的质量评价、电子设备漏电流核算等要害目标。
经过公式核算电阻值：$$ R = \frac{V}{I} $$为进步精度，一般会用静电计放大器跨阻放大器（TIA）增强电流信号。
静电计式高阻计KEITHLEY 6517B，分辨率达0.01 fA，适用于实验室超精细丈量。
数字式高阻计Agilent 4339B，集成数字化滤波和主动校准，合适产线. 按使用场景分类
测验体积电阻率（ρ_v）和外表电阻率（ρ_s）。·合格断定示例（IEC 60664-1）：工控设备内部在答应电压下不导电的资料要求 ρ_v ≥ 1×10¹² Ω·cm。
·资料尺度≥100×100 mm，外表清洁（异丙醇擦洗）。·涂覆导电胶电极（距离50±0.5 mm）。
超量程显现：下降测验电压（如从1000V改为100V），替换更高量程挡位。
·电流分辨率（至少1pA）、电压规模（掩盖10V~1000V）、支撑四线法丈量。
·资料电阻率模型软件、温湿度传感器集成。如需更详细的丈量方案设计或仪器比照剖析，可进一步供给测验目标的详细参数（如资料类型、电阻期望值等）。
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